回(hui)路(lu)電阻測(ce)試儀(yi)_第(11)頁(ye)-上海勝緒(xu)電(dian)氣(qi)有(you)限(xian)公(gong)司(si)

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HL-100A接觸(chu)回路電阻測(ce)試儀(yi) HL-100A接觸(chu)回路電阻測(ce)試儀(yi)采用(yong)高(gao)頻開(kai)關電源處理(li)技術和(he)數字(zi)電路(lu)處理技術相(xiang)結合設計(ji)而成(cheng)，測(ce)試電(dian)流(liu)采用(yong)國家(jia)標(biao)準推(tui)薦的直(zhi)流(liu)100A進行(xing)測(ce)試。

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斷路(lu)器(qi)回(hui)路電阻測(ce)試儀(yi)HL-100A 斷路(lu)器(qi)回(hui)路電阻測(ce)試儀(yi)HL-100A適用(yong)於開關控(kong)制設備(bei)回(hui)路(lu)電阻的(de)測(ce)量(liang)，分辨(bian)率(lv)達1uΩ，可(ke)在電流(liu)100A的(de)情況下(xia)直(zhi)接測(ce)得回(hui)路，數據(ju)顯示(shi)直觀(guan)，清晰(xi)。

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HL-100二次回路電(dian)阻測(ce)試儀(yi) HL-100二次回路電(dian)阻測(ce)試儀(yi)電流(liu)采用(yong)國家(jia)標(biao)準推(tui)薦的直(zhi)流(liu)100A進行(xing)測(ce)試，具(ju)有(you)測(ce)量(liang)準確、性(xing)能(neng)穩定(ding)，操作(zuo)簡(jian)單(dan)，符(fu)合電(dian)力(li)、供(gong)電部(bu)門(men)現(xian)場(chang)開(kai)關(guan)類(lei)廠(chang)回路電(dian)阻測(ce)試的(de)使用要求(qiu)

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HL-100A智能(neng)回(hui)路(lu)電阻測(ce)試儀(yi) HL-100A智能(neng)回(hui)路(lu)電阻測(ce)試儀(yi)采用(yong)高(gao)精(jing)度電阻，有(you)效(xiao)的消(xiao)除(chu)環(huan)境溫(wen)度對(dui)測(ce)量(liang)結果(guo)的(de)影(ying)響(xiang)，同(tong)時(shi)接插(cha)件(jian)的(de)使(shi)用(yong)增強(qiang)了抗(kang)振性能(neng)。

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HL-100A高低壓開(kai)關(guan)回路電(dian)阻測(ce)試儀(yi) HL-100A高低壓開(kai)關(guan)回路電(dian)阻測(ce)試儀(yi)克服(fu)了脈沖(chong)式(shi)電(dian)源瞬(shun)間(jian)電(dian)流(liu)的(de)弊(bi)端(duan)，可以(yi)有(you)效(xiao)的擊(ji)穿開關觸(chu)頭(tou)氧(yang)化膜(mo)，得到良(liang)好(hao)的(de)測(ce)試結果(guo)

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HLY-III-100A回路(lu)電(dian)阻測(ce)試儀(yi) HLY-III-100A回路(lu)電(dian)阻測(ce)試儀(yi)采用(yong)電(dian)源技術，能(neng)長時(shi)間(jian)連續(xu)輸出大電流(liu)，克(ke)服(fu)了脈沖(chong)式(shi)電(dian)源瞬(shun)間(jian)電(dian)流(liu)的(de)弊(bi)端(duan)，可以(yi)有(you)效(xiao)的擊(ji)穿開關觸(chu)頭(tou)氧(yang)化膜(mo)，得到良(liang)好(hao)的(de)測(ce)試結果(guo)。

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HLY-II回路(lu)電(dian)阻測(ce)試儀(yi) HLY-II回路(lu)電(dian)阻測(ce)試儀(yi)測(ce)量(liang)準確、性(xing)能(neng)穩定(ding)，符(fu)合電(dian)力(li)、供(gong)電部(bu)門(men)現(xian)場(chang)高(gao)壓開(kai)關(guan)維修和(he)高(gao)壓開(kai)關(guan)廠(chang)回路電(dian)阻測(ce)試的(de)要求(qiu)。

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