回路和直流(liu)電阻(zu)的(de)區別

自主(zhu)生(sheng)產(chan)的回(hui)路電阻(zu)測(ce)試儀和直流(liu)電阻(zu)測(ce)試儀，它(ta)們(men)區別在哪些方面？

　　1、測(ce)試電流(liu)不同(tong)
　　在回路電阻(zu)測(ce)試中，測(ce)試電流(liu)不得(de)小於(yu)100A，可在100A、200A、300A、400A、500A或(huo)600A條件(jian)下(xia)直接測(ce)量回(hui)路電阻(zu)或(huo)接觸(chu)電阻(zu)。

　　直流(liu)電阻(zu)測(ce)試儀的測(ce)量電流(liu)通常(chang)為：1A、3A、5A、10A、20A、30A等(deng)不(bu)同(tong)的測(ce)量檔位(wei)。

　　2、顯示(shi)不同(tong)
　　回(hui)路電阻(zu)測(ce)試儀直接顯(xian)示(shi)在液晶顯示(shi)器上(shang)，高(gao)速(su)熱敏(min)打印(yin)機(ji)，也可以保(bao)存在儀器(qi)上。
　　直流(liu)電阻(zu)測(ce)試儀由恒流(liu)電源和電壓信(xin)號檢測(ce)兩部(bu)分(fen)組成(cheng)，五位液晶數(shu)字(zi)顯(xian)示(shi)。
　　3、用途不同
　　回(hui)路電阻(zu)測(ce)試儀的接地電阻(zu)適(shi)用於(yu)直接測(ce)量各(ge)種接(jie)地裝置(zhi)的接地電阻(zu)值(zhi)，也(ye)可用於(yu)壹(yi)般低阻(zu)測(ce)量，四(si)端(duan)按(an)鈕(niu)還可以測(ce)量土(tu)壤電阻(zu)率。
　　直流(liu)電阻(zu)測(ce)試儀是壹(yi)種高精度寬(kuan)量程、采用高性(xing)能微處理器控(kong)制(zhi)的(de)電阻(zu)測(ce)試儀。（可以測(ce)試1μΩ~3MΩ的電阻(zu)，最大(da)顯(xian)示(shi)30,000數(shu)，最高(gao)測(ce)試速(su)度60次/秒，測(ce)試速(su)度在15次/秒下(xia)，依然可以保(bao)證0.05%的(de)準確(que)度(du)，並(bing)且(qie)讀(du)數(shu)跳動(dong)可控(kong)制(zhi)在3字(zi)以(yi)下。）廣泛應(ying)用於(yu)郵電、科研(yan)、軍隊、醫院(yuan)、工(gong)廠、學校等(deng)。
　　4、工(gong)作(zuo)原理不同(tong)
　　回路電阻(zu)測(ce)試儀通常采用直流(liu)雙臂電橋來測(ce)量斷路器的接觸(chu)電阻(zu)。但(dan)用雙臂電橋測(ce)量斷路器導(dao)電回路電阻(zu)時(shi)，由於(yu)雙臂電橋測(ce)量回(hui)路通過(guo)微(wei)弱(ruo)電流(liu)，電阻(zu)大(da)的(de)氧(yang)化(hua)膜難(nan)以(yi)消(xiao)除(chu)，被測(ce)電阻(zu)顯(xian)示(shi)壹(yi)個(ge)很(hen)大的(de)值。
　　直流(liu)電阻(zu)測(ce)試儀是通過(guo)控(kong)制(zhi)恒(heng)流(liu)源向(xiang)外部(bu)被(bei)測(ce)負載(zai)施加(jia)恒(heng)定(ding)、高精度的(de)電流(liu)，然後將(jiang)得(de)到的(de)數(shu)據（包括測(ce)試電壓、電流(liu)測(ce)試電流(liu)等(deng)）進行(xing)處理的中央控(kong)制(zhi)單(dan)元(yuan)，以(yi)獲得(de)實(shi)際(ji)阻(zu)力(li)。