SXBT-1000全(quan)自動(dong)變(bian)比組(zu)別測(ce)試(shi)儀(yi)操作(zuo)步(bu)驟(zhou)

      全自(zi)動(dong)變(bian)比組(zu)別測(ce)試(shi)儀(yi) ，是我(wo)公(gong)司采用(yong)現代(dai)電子(zi)技(ji)術，研制(zhi)出了新(xin)壹代(dai)全自(zi)動(dong)變(bian)比組(zu)別測(ce)試(shi)儀(yi)。它(ta)體積(ji)小(xiao)，重(zhong)量(liang)輕，精度高(gao)，穩(wen)定性好。它(ta)采用(yong)了大(da)屏(ping)幕(mu)漢字顯(xian)示(shi)、菜(cai)單操(cao)作(zuo)，界面友(you)好。變(bian)比(bi)組(zu)別可(ke)壹次(ci)測完(wan)。

操(cao)作(zuo)步(bu)驟(zhou)：

1、接(jie)線:將(jiang)儀(yi)器(qi)端(duan)子(zi)(A、B、C、a、b、c)與變壓器(qi)端(duan)子(zi)(A、B、C、a、b、c)對(dui)應接(jie)好(hao)，註意(yi)高(gao)低(di)壓千萬(wan)不要接反，否(fou)則可能損壞儀(yi)器(qi)。

2、打(da)開電(dian)源開關(guan)，顯(xian)示(shi)屏(ping)首先(xian)顯(xian)示(shi)"歡(huan)迎(ying)使用(yong)高(gao)電產(chan)品"，接著顯(xian)示(shi)自(zi)檢1;自檢2;自檢3;通過，表(biao)示全(quan)自(zi)動(dong)變(bian)比組(zu)別測(ce)試(shi)儀(yi)正(zheng)在(zai)自檢，最後分(fen)別顯(xian)示(shi)上(shang)次(ci)試(shi)驗(yan)的(de)變(bian)比，分接百(bai)分(fen)比(bi)、組(zu)別、信(xin)息(xi)顯(xian)示(shi)欄(lan)(誤差(cha)顯(xian)示(shi)欄(lan))顯(xian)示(shi)"自(zi)檢通過"，表(biao)明儀(yi)器(qi)正(zheng)常，可(ke)進(jin)行下壹步操作(zuo)。

3、按(an)<參數(shu))鍵，依(yi)次(ci)輸(shu)入變比(bi)，分接(jie)間(jian)距(ju)、組(zu)別，直(zhi)至(zhi)參數(shu)指示燈熄滅，如本(ben)次(ci)試(shi)驗(yan)所(suo)用(yong)參數(shu)與前次(ci)相同，此(ci)項操作(zuo)可(ke)省(sheng)略(lve)。

4、用(yong)分接(jie)調節鍵調(tiao)整分接點(dian)，每按(an)壹次(ci)該(gai)鍵，分(fen)接(jie)值移動(dong)壹個(ge)分(fen)接(jie)間距(ju)，如按(an)分接調節鍵，分(fen)接(jie)顯(xian)示(shi)欄(lan)無任(ren)何(he)反應，則說明分接(jie)間(jian)距(ju)沒有(you)設(she)置(zhi)，此(ci)時可(ke)按(an)參數(shu)鍵，設(she)置(zhi)分(fen)接(jie)間(jian)距(ju)。

5、測量(liang)：a、三相連續(xu):按(an)<三相連續(xu))鍵，鍵燈亮，按(an)(開始)鍵，鍵燈亮，全自動(dong)變(bian)比組(zu)別測(ce)試(shi)儀(yi)開始測(ce)量(liang)，並(bing)自(zi)動(dong)進(jin)入記錄(lu)狀態(tai)，每(mei)測(ce)完(wan)壹相，發(fa)出提示(shi)音，進(jin)入下壹相測量(liang)，全部(bu)完(wan)成(cheng)後(hou)，自(zi)動(dong)停(ting)止。

b、單相(xiang)：按(an)鍵，鍵燈亮，按(an)<開始)鍵，鍵燈亮，儀(yi)器(qi)開始測(ce)量(liang)待(dai)誤差(cha)顯(xian)示(shi)穩(wen)定後，記(ji)下該(gai)數(shu)據，按(an)<停止>鍵，鍵燈亮，完(wan)成(cheng) AB 相(xiang)的(de)測試(shi)。同(tong)樣(yang)完(wan)成(cheng)BC、CA相(xiang)的(de)測量(liang)。

6、打(da)印：如(ru)需打(da)印，必須(xu)在(zai)測量(liang)操作(zuo)前按(an)記錄鍵，鍵燈亮，全自動(dong)變(bian)比組(zu)別測(ce)試(shi)儀(yi)進入自動(dong)記(ji)錄狀態(tai)，自動(dong)記(ji)錄以(yi)後(hou)每(mei)次(ci)測量(liang)操作(zuo)的(de)數(shu)據，切斷(duan)電(dian)源如果用(yong)三相連續(xu)功能(neng)進行測量(liang),儀(yi)器(qi)自(zi)動(dong)記(ji)錄,測量(liang)前無需按(an)(記錄》鍵。

按(an)打(da)印鍵，屏(ping)幕(mu)顯(xian)示(shi)"正(zheng)在(zai)打(da)印"，稍(shao)候屏幕(mu)顯(xian)示(shi)"打(da)印完(wan)畢(bi)"即可完(wan)成(cheng)打(da)印。如(ru)在(zai)打(da)印過(guo)程中按(an)任(ren)意(yi)鍵，屏(ping)幕(mu)顯(xian)示(shi)"中(zhong)止打(da)印"，即可中途(tu)退出打(da)印。如(ru)果(guo)內存中沒(mei)有(you)數(shu)據，按(an)打(da)印鍵，則打(da)印鍵燈和記錄鍵燈同時閃(shan)爍，屏幕(mu)顯(xian)示(shi)"內(nei)存空(kong)"不能打(da)印。

當(dang)然(ran)，如果以(yi)前試(shi)驗(yan)數(shu)據不用(yong)保留，則在測量(liang)操作(zuo)前清(qing)除數(shu)據。按(an)(清(qing)除內存>鍵,如(ru)內(nei)存已(yi)空(kong),則清(qing)除內存鍵燈和記錄鍵燈同時閃(shan)爍，屏幕(mu)顯(xian)示(shi)"內(nei)存已(yi)空(kong)"，如內(nei)存未(wei)空(kong)，則屏幕(mu)顯(xian)示(shi)"清(qing)內(nei)存嗎(ma)?"，再按(an)清(qing)除內存鍵，則清(qing)除內存，屏幕(mu)顯(xian)示(shi)"內(nei)存已(yi)空(kong)"，如按(an)其(qi)他(ta)鍵，則中止清(qing)除內存，屏幕(mu)顯(xian)示(shi)"中(zhong)止清(qing)內(nei)存"。內存已(yi)滿(man)時，<打(da)印>和(he)<清(qing)除內存>鍵燈閃(shan)爍提示，連(lian)續(xu)按(an)兩下<清(qing)除內存)鍵，可(ke)以(yi)清(qing)除舊(jiu)數(shu)據。