直流(liu)高壓發(fa)生器(qi)試驗(yan)的特點(dian)

    直流(liu)高壓發(fa)生器(qi)，適(shi)用於(yu)對(dui)氧化(hua)鋅避雷器(qi)、電(dian)力電纜(lan)、變(bian)壓器(qi)、斷(duan)路器(qi)、發(fa)電機(ji)等(deng)高壓電(dian)氣(qi)設備(bei)進行(xing)直流(liu)耐壓試驗(yan)或(huo)直流(liu)泄(xie)漏(lou)電(dian)流(liu)試驗(yan)。

采(cai)用了(le)高頻倍(bei)壓電(dian)路，應(ying)用了(le)新(xin)的PWM高頻脈寬(kuan)調(tiao)制(zhi)技(ji)術，閉(bi)環(huan)調整(zheng)，采(cai)用了(le)電(dian)壓大反(fan)饋(kui)，使(shi)電(dian)壓(ya)穩(wen)定度大(da)幅度提高。使用的(de)大(da)功(gong)率IGBT器(qi)件(jian)及(ji)驅(qu)動技(ji)術，並(bing)根據(ju)電磁(ci)兼容性理論，采(cai)用特殊屏蔽(bi)、隔離和接(jie)地(di)等(deng)措(cuo)施。使(shi)直流(liu)高壓發(fa)生器(qi)實(shi)現了高品質(zhi)、便攜(xie)式(shi)，並(bing)能承受(shou)額(e)定電壓放(fang)電(dian)而(er)不損壞(huai)。具(ju)有(you)輸出(chu)功(gong)率大、體(ti)積小(xiao)的(de)特點(dian)，有(you)可(ke)靠(kao)的(de)過(guo)壓(ya)、過(guo)流(liu)及零位合閘(zha)保護(hu)功(gong)能，帶(dai)0.75倍(bei)電壓(ya)切換(huan)功(gong)能。

直流(liu)高電壓(ya)試驗(yan)的特點(dian)：

(1)試驗(yan)設備的容量較小(xiao)。特別(bie)是(shi)采(cai)用電(dian)力電子變換(huan)的(de)高頻電源後，整(zheng)套直流(liu)耐壓試驗(yan)裝(zhuang)置(zhi)的體(ti)積、重量大大(da)減(jian)小(xiao)，便(bian)於(yu)現場進行(xing)試驗(yan)；

(2)在試驗(yan)時可(ke)以同時(shi)測量泄漏(lou)電(dian)流(liu)，能有(you)效(xiao)地顯示(shi)絕緣(yuan)內部的集(ji)中(zhong)性缺陷(xian)或(huo)受(shou)潮(chao)，提供(gong)有(you)關(guan)絕緣(yuan)狀態的補充(chong)信(xin)息(xi)；

(3)在某種程(cheng)度(du)上帶(dai)有(you)非(fei)破(po)壞(huai)性試驗(yan)的性質(zhi)，在直流(liu)高壓下(xia)局(ju)部放(fang)電(dian)較弱，不會加快(kuai)有(you)機(ji)絕緣(yuan)材(cai)料分(fen)解或(huo)老化(hua)；

(4)對交流電氣(qi)設備(bei)絕緣(yuan)的考驗(yan)不如交(jiao)流(liu)試驗(yan)那(na)樣接(jie)近實際(ji)情況(kuang)。對(dui)於絕大(da)多數組合絕緣(yuan)來(lai)說，它(ta)們(men)在直流(liu)電(dian)壓下(xia)的電氣(qi)強(qiang)度遠高於交(jiao)流電(dian)壓下的電(dian)氣(qi)強(qiang)度，因而(er)交流(liu)電(dian)氣(qi)設備(bei)的(de)直流(liu)耐壓試驗(yan)必須提高試驗(yan)電壓，才能具有(you)等效(xiao)性。

直流(liu)高電壓(ya)試驗(yan)註(zhu)意事項

(1)直流(liu)高壓試驗(yan)要根據不同試品(pin)、不同的(de)試驗(yan)要求選擇合(he)適(shi)的電(dian)源容量。

般情況(kuang)下(xia)，直流(liu)高壓試驗(yan)所需(xu)的(de)試驗(yan)電流通常(chang)在幾mA到(dao)幾十mA，但是(shi)某些(xie)試品(pin)在擊穿(chuan)前(qian)瞬(shun)時泄漏(lou)電(dian)流(liu)還是(shi)很(hen)大(da)，將達(da)到(dao)安(an)培級(ji)。這(zhe)樣大(da)的泄漏(lou)電(dian)流(liu)將使(shi)設(she)備(bei)內(nei)部產(chan)生(sheng)很(hen)大(da)壓降而(er)使試驗(yan)結果不正確。

(2)保護(hu)電路

當(dang)試品(pin)放(fang)電(dian)，或(huo)者(zhe)發(fa)生器(qi)輸(shu)出(chu)端(duan)可(ke)能發(fa)生對(dui)地(di)短(duan)路時(shi)為了(le)限(xian)制(zhi)電(dian)容器(qi)柱的放(fang)電(dian)電(dian)流(liu)和(he)流(liu)經高壓矽(gui)的(de)電流，需(xu)在試品(pin)與高壓輸(shu)出端(duan)之間串接(jie)壹保護(hu)電阻(zu)。