
PRODUCT我(wo)們(men)相(xiang)信好(hao)的(de)產(chan)品(pin)是信譽(yu)的(de)保證(zheng)!
護(hu)套式電(dian)加(jia)熱(re)器(qi)
高(gao)壓開(kai)關機械特(te)性(xing)測試儀
手(shou)表(biao)式近電(dian)報警器(qi)
變(bian)頻串聯(lian)諧(xie)振耐(nai)壓試驗(yan)裝置(zhi)
開(kai)口閃(shan)點(dian)自(zi)動(dong)測定儀
全(quan)自(zi)動(dong)電(dian)容(rong)電(dian)感測試儀
雙鉗(qian)相(xiang)位伏(fu)安表(biao)
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我(wo)的(de)位置(zhi):首(shou)頁 > 技(ji)術文(wen)章 > SXFA-1600互感(gan)器(qi)勵(li)磁(ci)特(te)性(xing)試驗(yan)操(cao)作方法流程(cheng)
更(geng)新(xin)時(shi)間(jian):2025-12-16
瀏(liu)覽次(ci)數:121智能(neng)互感(gan)器(qi)綜(zong)合測試儀,是在(zai)傳統基(ji)於(yu)調(tiao)壓器(qi)、升(sheng)壓器(qi)、升(sheng)流器(qi)的(de)互感(gan)器(qi)伏(fu)安特(te)性(xing)變(bian)比極(ji)性(xing)綜合測試儀基礎(chu)上(shang),廣(guang)泛(fan)聽(ting)取用(yong)戶(hu)意(yi)見、經過大量的(de)市場(chang)調(tiao)研(yan)、深入(ru)進行(xing)理論(lun)研(yan)究之後研(yan)發(fa)的(de)新(xin)壹代革(ge)新(xin)型CT、PT測試儀器(qi)。裝置(zhi)采(cai)用(yong)高性(xing)能(neng)DSP和(he)FPGA、先(xian)進(jin)的(de)制造(zao)工藝,保(bao)證(zheng)了產(chan)品(pin)性(xing)能(neng)穩定可(ke)靠(kao)、功能(neng)完備、自(zi)動(dong)化(hua)程(cheng)度高(gao)、測試效(xiao)率高(gao),是電(dian)力行(xing)業(ye)用(yong)於互感(gan)器(qi)的(de)專(zhuan)業測試儀器(qi)。
互(hu)感(gan)器(qi)是電(dian)力系(xi)統中(zhong)重(zhong)要的(de)電(dian)力測量設(she)備之(zhi)壹,其作用是將(jiang)高電(dian)流通(tong)過線(xian)圈(quan)變(bian)壓成為(wei)與之成比(bi)例(li)的(de)低電(dian)流,以便(bian)於電(dian)氣(qi)元(yuan)件的(de)測量和(he)保護(hu)。勵磁(ci)特(te)性(xing)試驗(yan)是電(dian)流互(hu)感(gan)器(qi)的(de)壹個(ge)重(zhong)要測試項(xiang)目(mu),也是保(bao)證(zheng)電(dian)流互(hu)感(gan)器(qi)質量的(de)重(zhong)要環節(jie)。武漢(han)市(shi)合眾(zhong)電(dian)氣(qi)將(jiang)從勵(li)磁特(te)性(xing)試驗(yan)的(de)基本(ben)原(yuan)理、試驗(yan)流程(cheng)及計(ji)算(suan)分(fen)析(xi)等(deng)方(fang)面(mian)討(tao)論(lun)電(dian)流互(hu)感(gan)器(qi)勵(li)磁(ci)特(te)性(xing)試驗(yan)的(de)相(xiang)關內容(rong)。
勵(li)磁特(te)性(xing)試驗(yan)的(de)基本(ben)原(yuan)理
電(dian)流互(hu)感(gan)器(qi)的(de)勵磁(ci)特(te)性(xing)試驗(yan)是在(zai)額定頻率下(xia),給(gei)予(yu)壹定程(cheng)度的(de)電(dian)流輸入,測量輸出(chu)電(dian)流與輸入電(dian)流之(zhi)間(jian)的(de)比值(zhi),即(ji)變(bian)比誤差(cha)和(he)相(xiang)位差(cha),以評估電(dian)流互(hu)感(gan)器(qi)的(de)勵磁(ci)特(te)性(xing)。變(bian)比誤差(cha)是指(zhi)輸出(chu)電(dian)流與輸入電(dian)流之(zhi)間(jian)的(de)比值(zhi)與額定變(bian)比之(zhi)間(jian)的(de)偏差(cha)值(zhi),即(ji)變(bian)比誤差(cha)為(wei):
誤差(cha)=(輸出(chu)電(dian)流/輸入電(dian)流)-E,其中(zhong)E表(biao)示(shi)額定變(bian)比值(zhi)。
相(xiang)位差(cha)是指(zhi)輸出(chu)電(dian)流與輸入電(dian)流之(zhi)間(jian)的(de)時(shi)間(jian)相(xiang)位差(cha)。勵(li)磁特(te)性(xing)試驗(yan)的(de)目(mu)的(de)是為(wei)了保(bao)證(zheng)電(dian)流互(hu)感(gan)器(qi)的(de)輸入電(dian)流和(he)輸出(chu)電(dian)流之(zhi)間(jian)的(de)精(jing)度和(he)穩定性(xing),保證(zheng)其在(zai)工作狀(zhuang)態下(xia)的(de)可(ke)靠(kao)性(xing)。
試驗(yan)流程(cheng)
試驗(yan)前(qian)準(zhun)備
試驗(yan)前(qian),需(xu)要(yao)先(xian)將(jiang)電(dian)流互(hu)感(gan)器(qi)進(jin)行(xing)標記,標明電(dian)流互(hu)感(gan)器(qi)的(de)類(lei)型(xing)額定變(bian)比、額定頻率以及制造廠家(jia)等(deng)信息(xi)。然後將(jiang)電(dian)流互(hu)感(gan)器(qi)接(jie)入(ru)到(dao)實(shi)驗室(shi)電(dian)路中,並(bing)接好(hao)所(suo)有繼(ji)電(dian)器(qi)等(deng)附(fu)加(jia)設備。之(zhi)後,對測試設(she)備進(jin)行(xing)校準和(he)驗證(zheng),確(que)保所(suo)有設(she)備的(de)準確(que)性(xing)和(he)可(ke)靠(kao)性(xing)。
進行(xing)試驗(yan)
進(jin)行(xing)勵(li)磁(ci)特(te)性(xing)試驗(yan)時(shi),電(dian)流互(hu)感(gan)器(qi)需(xu)要(yao)在額定工作電(dian)壓下(xia)進行(xing)試驗(yan)輸入電(dian)流應(ying)該滿(man)足(zu)電(dian)流互(hu)感(gan)器(qi)的(de)額定電(dian)流,同時(shi)應該在(zai)盡量靠(kao)近(jin)額定電(dian)流的(de)值(zhi)上(shang)進(jin)行(xing)試驗(yan),以便(bian)於確(que)定變(bian)比誤差(cha)和(he)相(xiang)位差(cha)。在(zai)測試過程(cheng)中應該記錄下(xia)輸入電(dian)流、輸出(chu)電(dian)流和(he)變(bian)比誤差(cha)等數據(ju),記錄的(de)數據(ju)需(xu)要(yao)足(zu)夠的(de)精(jing)度和(he)可(ke)靠(kao)性(xing),以便(bian)於進行(xing)後續(xu)計(ji)算(suan)和(he)分(fen)析(xi)。
試驗(yan)後處理
試驗(yan)後,數據(ju)需(xu)要(yao)進行(xing)處理和(he)分(fen)析(xi),將(jiang)測試結(jie)果(guo)與電(dian)流互(hu)感(gan)器(qi)的(de)設計(ji)要求(qiu)進行(xing)比(bi)較(jiao),以判斷該電(dian)流互(hu)感(gan)器(qi)的(de)性(xing)能(neng)是否(fou)符(fu)合要(yao)求(qiu)。在進(jin)行(xing)數據(ju)分(fen)析(xi)時(shi),需(xu)要(yao)考(kao)慮源電(dian)壓的(de)波動(dong)、電(dian)磁幹擾等(deng)因素(su)對試驗(yan)結(jie)果(guo)的(de)影響(xiang)。


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