電纜交流(liu)耐壓的幾種(zhong)試(shi)驗(yan)方(fang)法(fa)

    變(bian)頻(pin)串(chuan)聯(lian)諧振試驗(yan)成(cheng)套裝(zhuang)置，采(cai)用(yong)調(tiao)節控(kong)制(zhi)電源頻率(lv)的方(fang)式，使得(de)電抗器與(yu)被(bei)試(shi)品電容(rong)實現串聯(lian)諧振，在被(bei)試(shi)品上產(chan)生高電壓小電流，是當(dang)前電力檢(jian)測高壓試驗(yan)的(de)壹種(zhong)新(xin)方(fang)法(fa)和潮(chao)流(liu)，在(zai)國(guo)內外(wai)已(yi)經得到廣泛(fan)應用(yong)和(he)認(ren)可(ke)。
裝(zhuang)置(zhi)采(cai)用(yong)了專用(yong)的(de)寬(kuan)頻調壓電源，調壓範圍AC0-400V，調頻範(fan)圍30～300Hz，頻率細(xi)度(du)可達(da)0.1Hz；整(zheng)個頻率(lv)區(qu)間內輸(shu)出(chu)波(bo)形(xing)良好；在小重(zhong)量和(he)體積下(xia)確保儀器穩定(ding)和(he)安全(quan)。裝(zhuang)置(zhi)由調(tiao)頻調壓電源、勵(li)磁(ci)變壓器、電抗器、電容(rong)分(fen)壓器組(zu)成(cheng)。

交流耐壓的幾種(zhong)試(shi)驗(yan)方(fang)法(fa)

串(chuan)聯(lian)諧振

如果被(bei)試(shi)品的試(shi)驗(yan)電壓較(jiao)高,而(er)電容(rong)量(liang)較(jiao)小，壹般可(ke)采用(yong)串(chuan)聯(lian)諧振方法(fa)。

當(dang)試(shi)驗(yan)回(hui)路(lu)中ω0L=1ω0C(C包(bao)括CX、C1、C2)時(shi),試(shi)驗(yan)回(hui)路(lu)產(chan)生串(chuan)聯(lian)諧振,此時(shi)能(neng)在(zai)試品上產(chan)生較(jiao)高的試驗(yan)電壓(試驗(yan)電壓高低與回路品質(zhi)因數(shu)有關),如果電容(rong)C較(jiao)大(da),試(shi)驗(yan)回(hui)路(lu)電流也較(jiao)大(da),通(tong)過電抗器的(de)電流也較(jiao)大(da),這(zhe)時(shi)試(shi)驗(yan)設備壹般難(nan)以滿足現場試驗(yan)需(xu)要(yao)；通(tong)常該(gai)試驗(yan)接線(xian)僅適用(yong)於(yu)被(bei)試(shi)品電容(rong)量(liang)較(jiao)小而(er)試驗(yan)電壓較(jiao)高,試驗(yan)變(bian)壓器。

能(neng)滿足試驗(yan)容(rong)量(liang)要求(qiu)而(er)不能(neng)滿足試驗(yan)電壓要求(qiu)的情況(kuang)。

對(dui)於電力電纜來(lai)說,被(bei)試(shi)設備的電容(rong)量(liang)C是固定(ding)的(de),要使試(shi)驗(yan)回(hui)路(lu)產(chan)生諧振就要(yao)改變試(shi)驗(yan)回(hui)路(lu)的(de)電感(gan)L或(huo)頻(pin)率(lv)ω，即(ji)：ω0=1LC或(huo)L =1ω02C；

采(cai)用(yong)改變電感(gan)的方法(fa)來(lai)滿足串聯(lian)諧振需采(cai)用(yong)可(ke)調電抗器，但(dan)限於運(yun)輸和(he)在(zai)現場搬動(dong),電抗器的(de)體積和(he)重(zhong)量不能(neng)做(zuo)得很(hen)大(da)，因(yin)此可調電抗器的(de)調節(jie)範(fan)圍是有限的。所(suo)以在現場試驗(yan)時(shi)采(cai)用(yong)調(tiao)感(gan)的方法(fa)往往由(you)於(yu)電抗器的(de)範圍有限而(er)不能(neng)滿足試驗(yan)要(yao)求(qiu)。

另壹種(zhong)方(fang)法(fa)是采用(yong)調(tiao)頻的(de)方(fang)法(fa)，即(ji)當(dang)電抗器和(he)電容(rong)固(gu)定(ding)時(shi)通(tong)過改變試(shi)驗(yan)電源頻率(lv)來(lai)使四(si)ω0L=1ω0C來(lai)達(da)到所需(xu)的電壓,但(dan)這(zhe)時(shi)需(xu)要(yao)壹套調(tiao)頻電源裝置(zhi)。

並(bing)聯(lian)諧振

如果被(bei)試(shi)品的試(shi)驗(yan)電壓較(jiao)低而(er)試品容(rong)量(liang)較(jiao)大(da)時(shi)，壹般可(ke)采用(yong)並(bing)聯(lian)諧振方法(fa)。

當(dang)試(shi)驗(yan)回(hui)路(lu)中ω0L=1ω0C(C包(bao)括CX、C1、C2)時(shi)，試(shi)驗(yan)回(hui)路(lu)產(chan)生並(bing)聯(lian)諧振,此時(shi)試(shi)品電壓等(deng)於(yu)電抗器電壓也等(deng)於(yu)升(sheng)壓變壓器高壓側(ce)電壓。由於電抗器的(de)補償(chang)作(zuo)用(yong),變(bian)壓器理論(lun)上僅提供回(hui)路(lu)阻性(xing)電流,可以大(da)大(da)降(jiang)低對試驗(yan)變(bian)壓器的容(rong)量(liang)要求(qiu)。因此該(gai)試驗(yan)回(hui)路(lu)適用(yong)於(yu)試品電容(rong)量(liang)大(da),而(er)電壓較(jiao)低的(de)情(qing)況(kuang)。低電壓的電抗器壹般容(rong)易制作(zuo)。

試(shi)驗(yan)時(shi)可(ke)采(cai)用(yong)幾(ji)個低電壓電抗器並(bing)聯(lian)的(de)方法(fa)或(huo)利(li)用(yong)可(ke)調電抗器改變電感(gan)的方法(fa)來(lai)滿足並(bing)聯(lian)諧振要求(qiu)。如果有壹套調(tiao)頻電源裝置(zhi)的話，也可(ke)采(cai)用(yong)改變試(shi)驗(yan)電源頻率(lv)的方(fang)法(fa)，使回(hui)路(lu)滿足試驗(yan)要(yao)求(qiu)。

串-並(bing)聯(lian)法(fa)

當(dang)試(shi)驗(yan)電壓較(jiao)高、被(bei)試(shi)品電容(rong)量(liang)較(jiao)大(da)時(shi)，采(cai)用(yong)上述(shu)兩種(zhong)方(fang)法(fa)都(dou)難(nan)以滿足試驗(yan)要(yao)求(qiu)，主要是試驗(yan)設備難(nan)以滿足要求(qiu)。壹是合(he)適的(de)高電壓大(da)容(rong)量(liang)的電抗器壹般單(dan)位都(dou)不具(ju)備；二是不同(tong)長(chang)度(du)的(de)電纜電容(rong)量(liang)不相(xiang)同(tong)，需(xu)要(yao)的(de)電抗器也不壹樣(yang)，即(ji)使是可調電抗器也往往由(you)於(yu)可調範圍有限而(er)難(nan)以滿足試驗(yan)要(yao)求(qiu)。因此僅靠配(pei)備合(he)適的(de)電抗器來(lai)滿足試驗(yan)要(yao)求(qiu)就比較(jiao)困難(nan),所(suo)以國(guo)內外(wai)進(jin)行(xing)長(chang)電纜交流(liu)耐壓試驗(yan)壹般均(jun)采用(yong)串(chuan)、並(bing)聯(lian)調(tiao)頻諧振方式。

在(zai)試(shi)驗(yan)回(hui)路(lu)中串(chuan)入(ru)電抗器產(chan)生串(chuan)聯(lian)諧振來(lai)提高被(bei)試(shi)品試驗(yan)電壓，在被(bei)試(shi)品兩端並(bing)聯(lian)電抗器使被(bei)試(shi)品電容(rong)電流大(da)部(bu)份由電抗器來(lai)補償(chang)，從而(er)使通(tong)過串聯(lian)電路中電抗器的(de)電流大(da)為(wei)減少，從而(er)降低(di)試(shi)驗(yan)對(dui)電抗器、試(shi)驗(yan)變(bian)壓器的要求(qiu)。采用(yong)調(tiao)頻電源裝置(zhi)來(lai)改變試(shi)驗(yan)頻(pin)率(lv)使ω0L=1ω0C，使試(shi)驗(yan)回(hui)路(lu)產(chan)生諧振。這樣(yang)試驗(yan)設備就比較(jiao)容(rong)易滿足試驗(yan)要(yao)求(qiu)。

主要特(te)點(dian)：

1、裝置(zhi)具(ju)有過壓、過流、零(ling)位啟(qi)動(dong)、系統失諧（閃絡）等(deng)保(bao)護(hu)功(gong)能(neng)，過壓過流保(bao)護(hu)值(zhi)可以根據(ju)用(yong)戶(hu)需要(yao)整(zheng)定(ding)，試(shi)品閃落(luo)時(shi)閃落(luo)保(bao)護(hu)動(dong)作(zuo)並(bing)能(neng)記(ji)下(xia)閃絡電壓值，以供試(shi)驗(yan)分(fen)析(xi)。

2、整(zheng)個裝置(zhi)單(dan)件重(zhong)量很(hen)輕，便於現場使用(yong)。

3、裝(zhuang)置具(ju)有三種(zhong)工(gong)作(zuo)模(mo)式，方(fang)便用(yong)戶(hu)根據(ju)現場情況靈(ling)活選(xuan)擇(ze)，提(ti)高試驗(yan)速(su)度。

工(gong)作(zuo)模(mo)式為(wei)：全(quan)自(zi)動(dong)模(mo)式、手(shou)動(dong)模(mo)式、自(zi)動(dong)調(tiao)諧手(shou)動(dong)升(sheng)壓模(mo)式、

4、能(neng)存(cun)儲(chu)，存入(ru)的(de)數(shu)據(ju)編(bian)號是數字，方便的幫(bang)助(zhu)用(yong)戶(hu)識別和(he)查(zha)找(zhao)。

5、裝置(zhi)自(zi)動(dong)掃頻時(shi)頻(pin)率(lv)起(qi)點可以在規定(ding)範(fan)圍內任意(yi)設定(ding)，掃頻方(fang)向可以向上、向下選(xuan)擇(ze)，同(tong)時(shi)液晶(jing)大(da)屏(ping)幕(mu)顯示(shi)掃描曲(qu)線(xian)，方(fang)便使用(yong)者(zhe)直觀(guan)了解是否找到諧振點。

6、采(cai)用(yong)了DSP平臺技術，可(ke)以方便的根(gen)據(ju)用(yong)戶(hu)需要(yao)增(zeng)減功(gong)能(neng)和(he)升級，也使得(de)人機交換界(jie)面更(geng)為(wei)人性(xing)化。