電(dian)纜(lan)直流電(dian)阻的(de)測(ce)試(shi)方法介紹(shao)

    電(dian)纜(lan)導體(ti)包(bao)括(kuo)導體(ti)芯(xin)線(xian)、金屬(shu)屏(ping)蔽層、金屬(shu)護套，是(shi)高(gao)壓(ya)電(dian)纜(lan)主要(yao)的組成部(bu)分之壹。電(dian)力(li)設(she)備(bei)預(yu)防性(xing)試驗規(gui)程(cheng)DL/T596-1996中規(gui)定，必須對電(dian)纜(lan)導體(ti)的(de)直(zhi)流電(dian)阻進(jin)行測(ce)試(shi)。

在(zai)多年電(dian)力(li)工(gong)程(cheng)案例中(zhong)，造成電(dian)纜(lan)導體(ti)直(zhi)流電(dian)阻故障的(de)主(zhu)要(yao)有(you)以下幾(ji)個原因(yin)：

1.個別(bie)生產(chan)廠(chang)家(jia)的(de)電(dian)纜(lan)銅屏(ping)蔽層不(bu)連(lian)續(xu)，甚(shen)至嚴(yan)重(zhong)到某壹(yi)相(xiang)或三(san)相(xiang)爭端(duan)無(wu)銅屏(ping)蔽層；

2.安(an)裝維(wei)護單位(wei)在(zai)做接(jie)頭(tou)時，接(jie)頭(tou)兩(liang)端(duan)的(de)銅屏(ping)蔽層接(jie)觸不良(liang)或電(dian)纜(lan)接(jie)頭(tou)處芯(xin)線(xian)導體(ti)接(jie)觸不良(liang)等(deng)。

3.對於(yu)鉛(qian)封(feng)油(you)浸(jin)紙介質電(dian)纜(lan)，在(zai)電(dian)纜(lan)的接(jie)頭(tou)處容易(yi)形(xing)成芯(xin)線(xian)導體(ti)接(jie)觸不良(liang)，或接(jie)頭(tou)兩(liang)端(duan)鉛(qian)套接(jie)觸不良(liang)或斷開(kai)現(xian)象(xiang)。

上述(shu)現(xian)象(xiang)極(ji)易(yi)造(zao)成電(dian)纜(lan)銅屏(ping)蔽層中(zhong)的(de)某壹(yi)點(dian)的電(dian)阻增(zeng)大(da)，產生熱(re)量(liang)，產(chan)生局(ju)部(bu)放電(dian)現(xian)象(xiang)，從而(er)形成各種(zhong)電(dian)纜(lan)故障。因(yin)此(ci)，進(jin)行電(dian)纜(lan)導體(ti)的(de)直(zhi)流電(dian)阻試(shi)驗(yan)是(shi)十分必要(yao)的。鑒(jian)於(yu)直(zhi)流電(dian)橋(qiao)使用(yong)比(bi)較麻(ma)煩(fan)，而(er)且效率低(di)下，現(xian)在(zai)三(san)新(xin)電(dian)力(li)工(gong)程(cheng)師特(te)以(yi)速(su)度快、測(ce)量(liang)範圍廣、操作(zuo)方便(bian)的(de)SXZR-10A直(zhi)流電(dian)阻測(ce)試(shi)儀(yi)為例，詳(xiang)細為用戶(hu)介紹(shao)電(dian)纜(lan)導體(ti)直(zhi)流電(dian)阻的(de)測(ce)試(shi)方法。

電(dian)纜(lan)直流電(dian)阻的(de)測(ce)試(shi)方法

1、將測(ce)試(shi)線(xian)與被(bei)測(ce)變(bian)壓(ya)器相(xiang)連接(jie)

將(jiang)儀(yi)器的(de)C1、C2、P1、P2端子與(yu)被試(shi)品按下圖(tu)的(de)接(jie)線(xian)方法接(jie)好(hao)。（測(ce)量(liang)方式為“四線(xian)制測(ce)量(liang)法(fa)"，此(ci)種(zhong)方法可消(xiao)除(chu)C1、C2、P1、P2間的(de)接(jie)觸電(dian)阻，並(bing)且可(ke)以(yi)消(xiao)除聯接(jie)線(xian)的電(dian)阻對測(ce)試(shi)結果的影(ying)響。）

2、將(jiang)儀(yi)器接(jie)地(di)端與(yu)被(bei)試(shi)品相連(lian)

在(zai)環境(jing)電(dian)磁場幹擾嚴(yan)重(zhong)或試品為感(gan)性(xing)試品的情況下，應(ying)將(jiang)儀(yi)器的(de)地(di)線(xian)端子(zi)與(yu)被(bei)試品的地(di)線(xian)用導線(xian)連接(jie)好(hao)，以(yi)消(xiao)除(chu)外界幹(gan)擾，使(shi)測(ce)得(de)的(de)數(shu)據(ju)較穩(wen)定。如(ru)儀(yi)器的(de)讀(du)數(shu)還(hai)不(bu)夠穩(wen)定，則需(xu)在(zai)讀(du)數(shu)結果出來(lai)後(hou)短(duan)接(jie)變(bian)壓(ya)器的(de)非被測(ce)端(duan)。即測(ce)量(liang)低(di)壓(ya)側(ce)時短(duan)接(jie)高(gao)壓(ya)側(ce)，測(ce)量(liang)高(gao)壓(ya)側(ce)時短(duan)接(jie)低(di)壓(ya)側(ce)。

3、接(jie)上電(dian)源(yuan)線(xian)，打開(kai)電(dian)源(yuan)開(kai)關(guan)

此(ci)時應(ying)將(jiang)儀(yi)器置(zhi)於“充電(dian)"狀態，電(dian)阻值(zhi)顯(xian)示框內(nei)顯(xian)示“0000"。

4、選(xuan)擇合適的量(liang)程(cheng)

根據(ju)被試(shi)品的大(da)小，估計被試品的電(dian)阻，選(xuan)擇合適的測(ce)量(liang)量(liang)程(cheng)。如(ru)果不能(neng)估計電(dian)阻大(da)小，量程(cheng)可以(yi)由大(da)到(dao)小選(xuan)擇。

5、調零

儀(yi)器在(zai)“20mΩ"和(he)“200mΩ"檔時，在(zai)充電(dian)狀態下，調節“調零"旋(xuan)鈕，使電(dian)阻顯(xian)示框內(nei)顯(xian)示為“0000"，其他量(liang)程(cheng)均能自動(dong)歸零。

6、測(ce)量(liang)

將(jiang)“充(chong)電(dian)測(ce)量(liang)"開(kai)關(guan)置(zhi)於(yu)“測(ce)量(liang)"狀態，儀(yi)器進(jin)入(ru)自動(dong)測(ce)量(liang)階(jie)段(duan)，待(dai)電(dian)阻值(zhi)顯(xian)示框顯(xian)示數(shu)值穩(wen)定後(hou)即可(ke)讀(du)數(shu)，並(bing)帶(dai)上相(xiang)應(ying)的量(liang)程(cheng)單位(wei)。

7、放電(dian)

測(ce)量(liang)完畢(bi)，將(jiang)“充(chong)電(dian)測(ce)量(liang)"開(kai)關(guan)置(zhi)於(yu)“充電(dian)"狀態，關掉(diao)電(dian)源(yuan)開(kai)關(guan)，“放電(dian)指(zhi)示"燈(deng)亮(liang)，待(dai)“放電(dian)指(zhi)示"燈(deng)熄(xi)滅(mie)後(hou)，再(zai)拆除變(bian)壓(ya)器的(de)連線(xian)。否則會產生反向(xiang)感(gan)應電(dian)動(dong)勢，危(wei)害人身安(an)全。

電(dian)纜(lan)直流電(dian)阻的(de)判(pan)斷(duan)準則

當(dang)銅屏(ping)蔽層電(dian)阻和(he)導體(ti)電(dian)阻比(bi)與投運(yun)前(qian)相比(bi)增(zeng)加(jia)時，表明(ming)銅(tong)屏(ping)蔽層的(de)直(zhi)流電(dian)阻增(zeng)大(da)，銅屏(ping)蔽層有(you)可能(neng)被(bei)腐蝕；當(dang)該值(zhi)與投運(yun)前(qian)相比(bi)減少時，表面附件中(zhong)的導體(ti)連(lian)接(jie)點(dian)的接(jie)觸電(dian)阻有(you)增(zeng)大(da)的可(ke)能(neng)。

需(xu)要(yao)引(yin)起(qi)註(zhu)意(yi)的是(shi)，由於(yu)溫(wen)度對導體(ti)電(dian)阻測(ce)量(liang)結果影(ying)響較(jiao)大，因(yin)此(ci)，測(ce)量(liang)電(dian)流的大(da)小將對導體(ti)電(dian)阻有(you)壹定(ding)的(de)影(ying)響。當(dang)測(ce)量(liang)電(dian)流較大(da)時，被(bei)測(ce)電(dian)纜(lan)導體(ti)會產生較(jiao)大(da)的(de)溫(wen)升(sheng)，使(shi)導體(ti)電(dian)阻增(zeng)大(da)，如(ru)果超(chao)差較(jiao)大(da)，應(ying)考慮(lv)電(dian)纜(lan)接(jie)頭(tou)是(shi)否接(jie)觸良(liang)好(hao)。在(zai)采用(yong)四端法測(ce)量(liang)時，壹(yi)定(ding)要(yao)按照(zhao)正(zheng)確(que)的接(jie)線(xian)方法進(jin)行測(ce)量(liang)：兩(liang)個電(dian)壓(ya)端(duan)在(zai)內測(ce)，兩(liang)個電(dian)流端在(zai)外側(ce)，電(dian)纜(lan)另壹(yi)端三(san)相(xiang)和(he)地(di)壹定(ding)要(yao)用銅質粗(cu)短(duan)先(xian)可靠(kao)連(lian)接(jie)。