絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻表(biao)測量(liang)時數(shu)據不(bu)準(zhun)的(de)解決(jue)辦(ban)法(fa)

      絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻表(biao)也叫(jiao)做(zuo)兆(zhao)歐表(biao)、緣電(dian)阻測試(shi)儀，勝(sheng)緒(xu)電(dian)氣(qi)生產(chan)的(de)SX-3025數(shu)字(zi)兆歐表(biao)主要(yao)用於檢(jian)查電(dian)氣(qi)設(she)備(bei)或(huo)電(dian)氣(qi)線路(lu)對(dui)地(di)及(ji)相(xiang)間(jian)的(de)絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻性能(neng)以(yi)保(bao)證(zheng)這些(xie)設(she)備(bei)工(gong)作正常，該(gai)兆(zhao)歐表(biao)容量(liang)大、雙刻(ke)度顯示(shi)，量(liang)程自動轉(zhuan)換(huan)、抗(kang)幹擾強(qiang)、並采用交直流(liu)供(gong)電(dian)方(fang)式(shi)、操(cao)作簡單。

首(shou)先，會有哪些(xie)因(yin)素會造成絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻表(biao)的(de)測量(liang)絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻數(shu)據不(bu)準(zhun)確(que)呢(ne)？接下(xia)來(lai)跟(gen)大(da)家(jia)壹(yi)起(qi)分享(xiang)下(xia)：

1.可(ke)調數(shu)字(zi)兆歐表(biao)電(dian)池(chi)電(dian)壓(ya)不(bu)足(zu)。電(dian)池(chi)電(dian)壓(ya)欠壓(ya)過(guo)低，造(zao)成電(dian)路(lu)不(bu)能(neng)正常工(gong)作(zuo)，所以測(ce)出的(de)讀數(shu)是(shi)不(bu)準(zhun)確(que)的(de)。

2.測試(shi)線(xian)接法不(bu)正確(que)。誤將"L"、"G"、"E"三端(duan)接線接錯，或將"G"、"L"連(lian)線(xian)"G"、"E"連(lian)線(xian)接在被測(ce)試(shi)品(pin)兩(liang)端(duan)。

3."G"端連(lian)線(xian)未接。被測(ce)試(shi)品(pin)由於受(shou)汙染潮濕(shi)等(deng)因(yin)素造成電(dian)流(liu)泄(xie)漏引(yin)起(qi)的(de)誤差，造成測(ce)試(shi)不(bu)準(zhun)確(que)，此時必須接好"G"湍(tuan)連(lian)線(xian)防止(zhi)泄(xie)漏電(dian)流(liu)引(yin)起(qi)誤差。

4.幹擾過(guo)大(da)。如果(guo)被測(ce)試(shi)品(pin)受(shou)環(huan)境(jing)電(dian)磁(ci)幹擾過(guo)大(da)，造成儀表(biao)讀數(shu)跳(tiao)動。或指針晃動。造成讀數(shu)不(bu)準(zhun)確(que)。

5.人為(wei)讀數(shu)錯誤。在用指針式兆(zhao)歐表(biao)測量(liang)時，由於人(ren)為(wei)視角誤差或標度尺誤差造成示(shi)值(zhi)不(bu)準(zhun)確(que)。

6.絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻表(biao)的(de)誤差。絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻測試(shi)儀本(ben)身(shen)誤差過(guo)大(da)，需要(yao)重新校對(dui)。

造(zao)成該(gai)現(xian)象主(zhu)要是(shi)試(shi)驗系(xi)統內(nei)某(mou)部位(wei)出(chu)現(xian)放電(dian)打(da)火(huo)。絕(jue)緣(yuan)表(biao)向容(rong)性被(bei)測試(shi)品(pin)充電(dian)中(zhong)，當(dang)容性試(shi)品(pin)被(bei)充至壹(yi)定(ding)電(dian)壓(ya)時(shi)，如果(guo)儀表(biao)內(nei)部(bu)測試(shi)線(xian)或(huo)被(bei)測試(shi)品(pin)中(zhong)任(ren)壹(yi)部(bu)位(wei)有擊穿放電(dian)打(da)火(huo)，就(jiu)會出現(xian)上(shang)述(shu)現(xian)象(xiang)。

其(qi)次，我(wo)們來(lai)了解(jie)下(xia)為(wei)什麽不(bu)同兆(zhao)歐(ou)表(biao)的(de)測量(liang)結果(guo)會存(cun)在差異(yi)呢(ne)?

由於高(gao)壓(ya)兆(zhao)歐表(biao)測試(shi)電(dian)源(yuan)非(fei)理想(xiang)電(dian)壓(ya)源(yuan)，內(nei)阻Ri不(bu)同測(ce)量(liang)回路(lu)串(chuan)接電(dian)阻Rm不(bu)同，動態測(ce)量(liang)準(zhun)確(que)度不(bu)同，以(yi)及(ji)現(xian)場(chang)測量(liang)操作的(de)不(bu)合(he)理或失(shi)誤等(deng)，不(bu)同型(xing)號(hao)兆(zhao)歐(ou)表(biao)對同(tong)—被測(ce)試(shi)品(pin)的(de)測量(liang)結果(guo)會存(cun)在差異(yi)。實(shi)際(ji)測(ce)量(liang)時，應結合(he)兆(zhao)歐表(biao)絕(jue)緣(yuan)試(shi)驗條(tiao)件的(de)特殊(shu)性(xing)盡(jin)量(liang)降低可(ke)能(neng)出(chu)現(xian)的(de)各種測(ce)量(liang)誤差;

1、不(bu)同型(xing)號(hao)的(de)絕(jue)緣(yuan)表(biao)測量(liang)同壹(yi)試(shi)品(pin)時(shi)，應(ying)采用相(xiang)同(tong)的(de)電(dian)壓(ya)等(deng)級(ji)和(he)接線方(fang)法。例如(ru)在測量(liang)電(dian)力變(bian)壓(ya)器(qi)高壓(ya)繞組(zu)絕(jue)緣(yuan)中(zhong)，當(dang)繞組(zu)引(yin)出(chu)端(duan)始終(zhong)接兆歐(ou)表(biao)L端鈕(niu)時，就(jiu)有:E端鈕(niu)接低壓(ya)繞組(zu)和(he)外殼，而(er)G端鈕(niu)懸空(kong)的(de)直接法;E端(duan)鈕接低壓(ya)繞組(zu)，而(er)G端(duan)鈕(niu)接外殼的(de)外殼屏(ping)蔽法(fa)（低電(dian)位(wei)屏(ping)蔽)﹔G端(duan)鈕(niu)接在高壓(ya)繞組(zu)套管的(de)表(biao)面(mian)，而(er)E端(duan)鈕(niu)先接低壓(ya)繞組(zu)，然後分別(bie)再(zai)和(he)外殼相(xiang)連(lian)或(huo)不(bu)相(xiang)連(lian)的(de)兩種套管屏(ping)蔽法(fa)（高(gao)電(dian)位(wei)屏(ping)蔽)。E端(duan)鈕(niu)接外殼，而(er)G端鈕(niu)接低壓(ya)繞組(zu)等(deng)接線方(fang)法。不(bu)同結(jie)構、制式(shi)的(de)兆歐(ou)表(biao)，G端鈕(niu)電(dian)位(wei)不(bu)同，G端(duan)鈕(niu)在套管表(biao)面(mian)的(de)安放位置(zhi)也(ye)應隨(sui)之(zhi)改變(bian)。

2、不(bu)同型(xing)號(hao)兆(zhao)歐(ou)表(biao)的(de)量(liang)程和(he)示(shi)值(zhi)的(de)刻(ke)度方法不(bu)同，刻(ke)度分辨力不(bu)同，測(ce)量(liang)準(zhun)確(que)度等(deng)級(ji)不(bu)同，都會引起(qi)示(shi)值(zhi)間的(de)差異(yi)。為(wei)了(le)保(bao)證(zheng)對電(dian)力設(she)備(bei)的(de)準(zhun)確(que)測量(liang)，應避(bi)免(mian)選用準(zhun)確(que)度低，使(shi)用不(bu)方便(bian)的(de)搖表(biao)。

3、試(shi)品(pin)大(da)多(duo)含(han)容(rong)性(xing)分量(liang),並存(cun)在介質(zhi)極化現(xian)象(xiang)，即使(shi)測(ce)試(shi)條(tiao)件相(xiang)同(tong)也(ye)難(nan)以(yi)獲得理想(xiang)的(de)數(shu)據重復(fu)性(xing)。

4、測(ce)量(liang)時,絕(jue)緣(yuan)介(jie)質(zhi)的(de)溫度和(he)油(you)溫應(ying)與(yu)環(huan)境(jing)溫度壹(yi)致(zhi)，壹(yi)般允許相(xiang)差(cha)±5%。

5、應(ying)在特定(ding)時間(jian)段的(de)允許時間(jian)差(cha)範圍內(nei)，盡(jin)快(kuai)地(di)讀取測(ce)量(liang)值。為使(shi)測(ce)量(liang)誤差不(bu)於±5%，讀取R6OS的(de)時間(jian)允許誤差±3S,而讀取15S的(de)時間(jian)不(bu)應相(xiang)差(cha)±1S。

6、高(gao)壓(ya)測(ce)試(shi)電(dian)源(yuan)非(fei)理想(xiang)電(dian)壓(ya)源(yuan)，賴荷(被(bei)測(ce)試(shi)品(pin)絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻值小)時，輸(shu)出電(dian)壓(ya)低於(yu)其(qi)額定(ding)值,這將導致(zhi)單支路(lu)直讀測量(liang)法兆歐表(biao)測量(liang)準(zhun)確(que)度因轉(zhuan)換(huan)系(xi)數(shu)的(de)改變(bian)而降低。這種改(gai)變(bian)因兆(zhao)歐(ou)表(biao)測試(shi)電(dian)源(yuan)負荷特(te)性(xing)不(bu)同而(er)異(yi)。

7、不(bu)同動態測(ce)試(shi)容(rong)量(liang)指標的(de)兆歐(ou)表(biao)，試(shi)驗電(dian)壓(ya)在試(shi)品(pin)上(shang)(及(ji)采(cai)樣(yang)電(dian)阻上(shang))的(de)建立(li)過(guo)程(cheng)與對試(shi)品(pin)的(de)充電(dian)能(neng)力均存(cun)在差異(yi)，測(ce)量(liang)結果(guo)也會不(bu)同，使(shi)用低於(yu)動態測(ce)試(shi)容(rong)量(liang)指標[門限(xian)值(zhi)的(de)兆歐(ou)表(biao)測量(liang)時，由於儀表(biao)存(cun)在慣(guan)性(xing)網(wang)絡(包括(kuo)指針式儀表(biao)的(de)機(ji)械(xie)慣(guan)性(xing))導致(zhi)示(shi)值(zhi)響應(ying)速(su)度較(jiao)慢(man)，來(lai)不(bu)及正確(que)反(fan)映試(shi)品(pin)實(shi)在絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻值隨(sui)時間(jian)的(de)變(bian)化規(gui)律(lv)，尤其(qi)是(shi)在測試(shi)的(de)起(qi)始階段,電(dian)容(rong)充電(dian)電(dian)流(liu)未*衰(shuai)減為零,更(geng)會使(shi)R15S和(he)吸(xi)收比(bi)讀測值(zhi)產(chan)生較(jiao)大(da)誤差(偏小)。

8、試(shi)品(pin)絕(jue)緣(yuan)介(jie)質(zhi)極(ji)化狀況(kuang)與(yu)外加試(shi)驗電(dian)壓(ya)大(da)小有關(guan)。由於試(shi)驗電(dian)壓(ya)不(bu)能(neng)迅速(su)達(da)到額定(ding)值，或(huo)因兆(zhao)歐(ou)表(biao)測試(shi)電(dian)源(yuan)負荷特(te)性(xing)不(bu)同導致(zhi)施加於試(shi)品(pin)上(shang)試(shi)驗電(dian)壓(ya)的(de)差異(yi)，使(shi)試(shi)品(pin)初始極化狀況(kuang)不(bu)同，導致(zhi)吸(xi)收電(dian)流(liu)不(bu)同，使(shi)緣(yuan)電(dian)阻測量(liang)的(de)示(shi)值(zhi)不(bu)同。

9、國(guo)外某(mou)些(xie)兆(zhao)歐表(biao)的(de)試(shi)驗高(gao)電(dian)壓(ya)連(lian)續(xu)可調，開機(ji)後先由零調節至額定(ding)值。兆(zhao)歐表(biao)讀數(shu)起(qi)始時間(jian)的(de)不(bu)確(que)定性(xing),以(yi)及(ji)高壓(ya)達(da)到額定(ding)值時(shi)間的(de)不(bu)確(que)定性(xing)，使(shi)試(shi)品(pin)初始極化不(bu)同，也(ye)將(jiang)引(yin)|起(qi)示(shi)值(zhi)間的(de)差別(bie)。

10、不(bu)同兆(zhao)歐(ou)表(biao)現場(chang)幹擾的(de)敏(min)感度和(he)抵禦(yu)能(neng)力不(bu)同，對(dui)同(tong)壹(yi)試(shi)品(pin)的(de)讀測值(zhi)會存(cun)在差異(yi)。

11、數(shu)據隨(sui)機(ji)起(qi)伏的(de)常規(gui)測(ce)量(liang)誤差和(he)兆歐(ou)表(biao)方法(fa)誤差不(bu)同等(deng)弓|起(qi)示(shi)值(zhi)間的(de)差異(yi)。

12、介(jie)質(zhi)放電(dian)不(bu)充分是(shi)重復(fu)測(ce)量(liang)結果(guo)存(cun)在差異(yi)的(de)重要原(yuan)因(yin)之(zhi)壹(yi)。據試(shi)品(pin)充電(dian)吸(xi)收電(dian)流(liu)與(yu)其(qi)反(fan)向(xiang)放電(dian)電(dian)流(liu)對(dui)應(ying)和(he)可逆(ni)的(de)特點，若(ruo)需對(dui)同壹(yi)試(shi)品(pin)進(jin)行第二(er)次重復(fu)測(ce)量(liang)，第壹(yi)次測(ce)量(liang)結束後的(de)試(shi)品(pin)短(duan)路(lu)放電(dian)間(jian)歇時間壹(yi)般應(ying)長於(yu)測量(liang)時間， 以放盡所(suo)積(ji)聚的(de)吸(xi)收電(dian)荷量(liang),使(shi)試(shi)品(pin)絕(jue)緣(yuan)介(jie)質(zhi)充分恢(hui)復(fu)到原(yuan)先無極化狀態(tai)，否(fou)則(ze)將(jiang)影響第(di)二次測(ce)量(liang)數(shu)據的(de)準(zhun)確(que)度。為使(shi)被(bei)試(shi)品(pin)上(shang)無(wu)剩(sheng)余(yu)電(dian)荷，每(mei)次試(shi)驗前(qian)也應(ying)該(gai)將(jiang)測量(liang)端對地(di)短(duan)路(lu)放電(dian)，有時甚(shen)至需時(shi)近(jin)1小時(shi)，並應拆(chai)除(chu)與無(wu)關(guan)設(she)備(bei)間(jian)的(de)聯線(xian)。總(zong)之(zhi)，同壹(yi)試(shi)品(pin)不(bu)同時(shi)期(qi)的(de)絕(jue)緣(yuan)測(ce)量(liang)，應采用相(xiang)同(tong)的(de)試(shi)驗電(dian)壓(ya)等(deng)級(ji)和(he)接線方(fang)法，並盡可能(neng)使(shi)用同壹(yi)型(xing)號(hao)或(huo)性能(neng)相(xiang)近(jin)的(de)絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻表(biao)，以保(bao)證(zheng)測量(liang)數(shu)據的(de)可比(bi)性(xing)。

13、最後(hou)還(hai)應(ying)特(te)別強調選用動態測(ce)量(liang)準(zhun)確(que)度較(jiao)低和(he)高壓(ya)測(ce)試(shi)電(dian)源(yuan)容(rong)量(liang)較(jiao)低的(de)儀表(biao)，由於電(dian)容(rong)充電(dian)電(dian)流(liu)尚(shang)未*衰(shuai)減為零，以及(ji)儀表(biao)示(shi)值(zhi)不(bu)能(neng)準(zhun)確(que)地(di)實(shi)時跟(gen)隨(sui)試(shi)品(pin)視在絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻值的(de)變(bian)化，讀測R15S阻值偏低，出(chu)現(xian)較(jiao)大(da)誤差，導致(zhi)試(shi)品(pin)吸(xi)收比(bi)測試(shi)值(zhi)虛(xu)假(jia)偏高，應引(yin)|起(qi)測試(shi)人(ren)員(yuan)特(te)別重視。這也可(ke)能(neng)是(shi)各(ge)種型(xing)號(hao)高(gao)壓(ya)兆(zhao)歐表(biao)測量(liang)同壹(yi)試(shi)品(pin)時(shi)吸(xi)收比(bi)讀測值(zhi)存(cun)在差異(yi)的(de)主要(yao)原(yuan)因(yin)。由此也說明吸(xi)收比(bi)判(pan)此指標不(bu)及極(ji)化指數(shu)科學和(he)客觀。

最後(hou)，絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻表(biao)的(de)測量(liang)絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻數(shu)據不(bu)準(zhun)確(que)該(gai)如(ru)何解(jie)決(jue)呢(ne)：

1.絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻表(biao)測試(shi)座(zuo)不(bu)接入測(ce)試(shi)線(xian)，開(kai)啟電(dian)源(yuan)和(he)高壓(ya)，看(kan)儀表(biao)內(nei)是(shi)否(fou)有打(da)火(huo)現(xian)象(xiang)發(fa)生(若有打(da)火(huo)可(ke)聽(ting)到放電(dian)打(da)火(huo)聲(sheng))。

2.接上(shang)L、G、E測(ce)試(shi)線(xian)，不(bu)接被測(ce)試(shi)品(pin)，L測(ce)試(shi)線(xian)末端線夾懸空(kong)，開啟高壓(ya)，看(kan)測試(shi)導線是(shi)否(fou)有打(da)火(huo)現(xian)象(xiang)發(fa)生。若有打(da)火(huo)現(xian)象(xiang)，則(ze)檢(jian)查: a)L、G測(ce)試(shi)線(xian)芯線(xian)〔L端(duan)）與裸(luo)露在外的(de)線(G端(duan)）是(shi)否(fou)過(guo)近(jin)，產生(sheng)拉(la)弧打(da)火(huo)。b)L端(duan)芯線(xian)插頭(tou)與測試(shi)座(zuo)屏(ping)蔽環(huan)或(huo)測試(shi)夾(jia)子(zi)與(yu)被測試(shi)品(pin)接觸不(bu)良(liang)造成打(da)火(huo)。c）測(ce)試(shi)線(xian)與(yu)插頭(tou)、夾子之(zhi)間虛(xu)焊(han)斷(duan)路(lu)，造(zao)成間(jian)隙(xi)放電(dian)。

3.接入被(bei)測試(shi)品(pin)，檢(jian)查末端線夾與試(shi)品(pin)接觸點附(fu)近(jin)有無放電(dian)打(da)火(huo)。