回(hui)路電阻(zu)測試(shi)儀主(zhu)要(yao)用(yong)於(yu)斷路(lu)器(qi)接(jie)觸(chu)電阻(zu)與截流(liu)導(dao)體電(dian)阻(zu)的(de)高精(jing)度(du)測量(liang)，能長時間(jian)穩(wen)定輸出(chu)電(dian)流(liu)。具有測量(liang)迅速(su)、體積(ji)小(xiao)巧、使(shi)用(yong)方便、測量(liang)精(jing)度(du)高等(deng)特點，是測量(liang)變壓(ya)器(qi)繞組(zu)以及大功(gong)率(lv)電感設備(bei)直流(liu)電(dian)阻(zu)的(de)理(li)想(xiang)設(she)備(bei)。適用於(yu)高壓(ya)開關接(jie)觸(chu)（回(hui)路）電阻(zu)的(de)高精(jing)度(du)測量(liang)，同樣(yang)適用於(yu)其(qi)它需(xu)要(yao)大(da)電(dian)流(liu)、微(wei)電阻(zu)測量(liang)的場(chang)合(he)。當(dang)測試(shi)儀的電(dian)壓(ya)接(jie)線回(hui)路接(jie)觸(chu)不良或斷路(lu)時，測試(shi)儀還將(jiang)顯(xian)示(shi)壹個(ge)值(zhi)，並且(qie)此(ci)時將(jiang)出(chu)現(xian)以(yi)下(xia)情(qing)況(kuang)：
(1)電(dian)壓(ya)環路是開放的，在測試(shi)現(xian)場(chang)沒(mei)有(you)強(qiang)烈(lie)的(de)電場(chang)幹(gan)擾。在(zai)這(zhe)種情(qing)況(kuang)下(xia)，由於(yu)放大器(qi)輸入(ru)的差模(mo)電(dian)壓(ya)基本上為0，因此(ci)儀器(qi)顯(xian)示(shi)的測試(shi)值(zhi)接(jie)近於0。如(ru)果(guo)測試(shi)人員(yuan)具有足(zu)夠的(de)現場(chang)測試(shi)經(jing)驗，則(ze)可以(yi)推斷出(chu)儀器(qi)是例外(wai)。排除(chu)儀器(qi)電壓(ya)回(hui)路測試(shi)線後，可獲得最(zui)終(zhong)的準(zhun)確測試(shi)結果(guo);
(2)電壓(ya)電路接(jie)觸(chu)不良。在大多(duo)數情(qing)況(kuang)下(xia)，長期(qi)操(cao)作後，斷路(lu)器(qi)的接(jie)線端(duan)子(zi)在接(jie)線盒的外(wai)觀(guan)上會形成(cheng)氧(yang)化(hua)膜或(huo)油膜(mo)。將(jiang)回(hui)路電阻(zu)表(biao)的(de)電壓(ya)測試(shi)夾鉗夾到這(zhe)樣(yang)的端(duan)子(zi)塊(kuai)上是可能的。如(ru)果(guo)接(jie)觸(chu)不良，則電壓(ya)測試(shi)線夾本身也(ye)將(jiang)具有正(zheng)接(jie)觸(chu)電阻(zu)。首先(xian)將(jiang)接(jie)觸(chu)電阻(zu)值(zhi)與電(dian)壓(ya)采樣(yang)環路的內部(bu)電(dian)阻(zu)值(zhi)進行比較，這(zhe)將(jiang)對(dui)測試(shi)結果(guo)產生(sheng)重(zhong)大影(ying)響。
(3)電壓(ya)電路斷開(kai)或(huo)連接(jie)不(bu)良(電路斷開(kai)時可見(jian)接(jie)觸(chu)電阻(zu)R1無(wu)限(xian)大)，並(bing)且(qie)在(zai)測試(shi)現(xian)場(chang)存(cun)在(zai)強(qiang)烈(lie)的(de)電磁(ci)幹(gan)擾，例如(ru)母線已(yi)充電。此(ci)時，已(yi)充電的(de)母線以(yi)空氣(qi)為介質通(tong)過(guo)電(dian)容(rong)器(qi)，從(cong)而(er)對測試(shi)儀產生(sheng)幹(gan)擾。對(dui)於兩(liang)條電(dian)壓(ya)測試(shi)線，由(you)於(yu)幹(gan)擾，差模(mo)電(dian)壓(ya)會出(chu)現(xian)在(zai)環路測試(shi)儀的電(dian)壓(ya)采集線的(de)兩(liang)端。
PRODUCT
我(wo)的位(wei)置(zhi)：首頁(ye) > 技術(shu)文(wen)章(zhang) > 回(hui)路電阻(zu)測試(shi)儀廠家(jia)遇到(dao)故(gu)障的(de)幾種情(qing)況(kuang) 
更(geng)新(xin)時間(jian)：2021-10-20 
瀏覽(lan)次(ci)數：1052
