防(fang)雷(lei)大(da)地網(wang)接(jie)地電(dian)阻(zu)異頻(pin)測量步(bu)驟分(fen)析

        SXDW-5A大(da)型地網(wang)接(jie)地電(dian)阻(zu)測試儀適用於測試各(ge)類(lei)接(jie)地裝(zhuang)置的工頻(pin)接(jie)地阻(zu)抗(kang)、接(jie)觸(chu)電(dian)壓、跨(kua)步(bu)電壓、等工頻(pin)特性(xing)參數(shu)以(yi)及土(tu)壤電(dian)阻率。本(ben)儀器采用異頻(pin)抗幹(gan)擾(rao) 技術(shu)，能(neng)在(zai)強(qiang)幹(gan)擾(rao)環境(jing)下(xia)準(zhun)確測得工頻(pin)50Hz下的數(shu)據(ju)。測試電(dian)流(liu)最大(da)5A，不會引(yin)起(qi)測試時(shi)接(jie)地裝(zhuang)置的電(dian)位過(guo)高，同時(shi)它還(hai)具(ju)有(you)*的抗(kang)幹擾(rao)能力(li)，故(gu)可以(yi)在不(bu) 停(ting)電的情(qing)況下(xia)進(jin)行測量。

          在(zai)對(dui)接(jie)地裝(zhuang)置進(jin)行測量時(shi)，由(you)於受不平(ping)衡零(ling)序(xu)電流以(yi)及射(she)頻(pin)等各種(zhong)幹擾(rao)，使得(de)測試結(jie)果(guo)產(chan)生很(hen)大(da)的誤(wu)差(cha)。特別(bie)是大(da)型接(jie)地網(wang)的接(jie)地阻(zu)抗(kang)壹般很小（壹(yi)般在0.5Ω以(yi) 下），幹(gan)擾(rao)帶(dai)來的相對誤差(cha)更(geng)大(da)。為了降低現場幹(gan)擾(rao)的影(ying)響，目前采用的方(fang)法主要有(you)兩種(zhong)，壹種(zhong)是增大(da)測試電(dian)流(liu)，壹種(zhong)是使用異頻(pin)法。第(di)壹(yi)種(zhong)方法(fa)是通(tong)過(guo)加(jia)大(da)測試電(dian) 流(liu)來加(jia)大(da)信(xin)號(hao)電(dian)壓和信(xin)號(hao)電(dian)流，從(cong)而提高信(xin)噪(zao)比(bi)，減(jian)小(xiao)測量誤(wu)差(cha)。這(zhe)種(zhong)方法(fa)由(you)於采用了很大(da)的測試電(dian)流(liu)（DL/T475-2006標準(zhun)推薦(jian)不宜(yi)小(xiao)於(yu)50A），使 得(de)設備非(fei)常(chang)笨重(zhong)，且布(bu)線勞(lao)動強度(du)很大(da)，耗(hao)時(shi)耗(hao)力(li)。

        目前國內接(jie)地裝(zhuang)置的測試工作(zuo)比(bi)較(jiao)薄(bo)弱，壹些(xie)關鍵的技(ji)術(shu)觀(guan)念(nian)比(bi)較(jiao)模(mo)糊，技術(shu)手(shou)段(duan)落(luo)後(hou)。針對上(shang)述(shu)現(xian)狀(zhuang)，我國(guo)制(zhi)訂了最新行業(ye)標準(zhun)DL/T475-2006和國(guo)家標(biao)準(zhun)GB/T17949.1-2000。新標準(zhun)對舊(jiu)標準(zhun)做了很多(duo)重(zhong)要改(gai)變(bian)。

        介(jie)紹壹種(zhong)地網(wang)接(jie)地電(dian)阻(zu)異頻(pin)測量方(fang)法(fa)，該方(fang)法在(zai)試驗電流(liu)頻(pin)率與系統工頻(pin)相當的條件下(xia)，可獲得(de)穩(wen)定可信(xin)的測量結(jie)果(guo)。分(fen)析了外界(jie)幹(gan)擾(rao)的來源及特點(dian)，結(jie)合(he)模擬(ni)試驗和現(xian)場(chang)實測結(jie)果(guo)，研(yan)究(jiu)討(tao)論(lun)試驗電流(liu)頻(pin)率以(yi)及測量引(yin)線(xian)的布(bu)置方式(shi)對測試結(jie)果(guo)的Z,R和(he)X的影(ying)響。

          測量地網(wang)接(jie)地電(dian)阻(zu)有工頻(pin)電流(liu)法和異(yi)頻(pin)電流(liu)法。前者是傳統方法(fa)，工頻(pin)試驗電流(liu)、試驗電源容(rong)量(liang)、電(dian)流線(xian)截(jie)面(mian)都(dou)大(da)，設備笨重(zhong)。近十(shi)年(nian)來應(ying)用的異(yi)頻(pin)測量法(fa)試驗電流(liu) 的頻(pin)率範圍(wei)約在(zai)40-250Hz。因試驗頻(pin)率越近工頻(pin)，測量儀器在硬(ying)、軟件上(shang)的技(ji)術(shu)難(nan)度(du)越大(da)，故(gu)多(duo)數(shu)異(yi)頻(pin)測試儀器的試驗頻(pin)率遠離(li)50Hz，異(yi)頻(pin)測試結(jie)果(guo)與 工頻(pin)測試結(jie)果(guo)的等效(xiao)性令人關心(xin)。先(xian)研究(jiu)出壹種(zhong)*的硬(ying)、軟件抗(kang)幹擾(rao)方法(fa)，使(shi)試驗頻(pin)率與工頻(pin)相當接(jie)近，可(ke)獲得(de)穩(wen)定可信(xin)的測量結(jie)果(guo)。

SXDW-5A大(da)型地網(wang)接(jie)地電(dian)阻(zu)測試儀操(cao)作(zuo)步(bu)驟和(he)方法(fa):
1、儀器通(tong)過(guo)測量接(jie)地裝(zhuang)置的電(dian)位升(sheng)高與流入接(jie)地裝(zhuang)置的電(dian)流之比(bi)來測量接(jie)地阻(zu)抗(kang)。
2、異頻(pin)恒流(liu)電源可輸出頻(pin)率為45Hz或(huo)55Hz的正弦波測試電(dian)流(liu)，輸出頻(pin)率受微電(dian)腦系(xi)統控制(zhi)。其(qi)輸出經(jing)過(guo)隔(ge)離(li)後(hou)通(tong)過(guo)儀器面板上的E、C兩個(ge)端子輸出。電 壓放大(da)器為壹個(ge)高輸入阻(zu)抗放大(da)器，它將P1、P2兩端的電(dian)壓放大(da)後(hou)送(song)給濾(lv)波器(qi)。電(dian)流(liu)放大(da)器將從(cong)電流(liu)互感(gan)器取得的電(dian)流信(xin)號(hao)進(jin)行放大(da)後(hou)送(song)給濾(lv)波器(qi)。濾(lv)波器(qi)用於 濾(lv)除幹(gan)擾(rao)信(xin)號(hao)，只(zhi)允許45Hz和55Hz信(xin)號(hao)通(tong)過(guo)。A/D轉(zhuan)換(huan)器用於將(jiang)電(dian)壓和電(dian)流(liu)信(xin)號(hao)轉(zhuan)換(huan)為數(shu)字信(xin)號(hao)以(yi)便微電腦系(xi)統進(jin)行分(fen)析處(chu)理(li)。
3、用戶啟(qi)動(dong)接(jie)地阻(zu)抗(kang)測量後(hou)，儀器首先(xian)開啟(qi)異(yi)頻(pin)電源使之輸出頻(pin)率為45Hz的電(dian)流，待電流(liu)穩定之後(hou)，微(wei)電腦系(xi)統通(tong)過(guo)A/D轉(zhuan)換(huan)器取得電(dian)壓和電(dian)流(liu)波形數(shu)據(ju)， 進(jin)行數(shu)字濾(lv)波後(hou)計(ji)算出電壓V45和電(dian)流(liu)I45及其(qi)相位差(cha),再(zai)進(jin)壹步(bu)計算(suan)出阻抗(kang)Z45、電(dian)阻分(fen)量R45和(he)電(dian)抗(kang)分(fen)量X45。然(ran)後(hou)，切(qie)換(huan)異頻(pin)電源的輸出頻(pin)率為 55Hz，經(jing)過(guo)同樣的步(bu)驟後(hou)可(ke)計算出阻抗(kang)Z55、電(dian)阻分(fen)量R55和(he)電(dian)抗(kang)分(fen)量X55。取Z45   和Z55的平(ping)均值(zhi)作(zuo)為(wei)工頻(pin)接(jie)地阻(zu)抗(kang)Z50。最後(hou)，關閉(bi)異頻(pin)電源，通(tong)過(guo)液晶(jing)屏顯(xian)示測量結(jie)果(guo)。因此(ci)阻(zu)抗測量時(shi)，儀器測量的是兩電(dian)壓輸入端P1、P2之間(jian)的電(dian)壓 與電源輸出電流(liu)之比(bi)。