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          電(dian)纜故障(zhang)測試儀(yi)的(de)故障(zhang)類(lei)型(xing)進行(xing)分解(jie)分析(xi)

          更(geng)新時間:2021-06-16      瀏(liu)覽(lan)次(ci)數(shu):1022
             電(dian)纜故障(zhang)測試儀(yi)采(cai)用ARM+FPGA技(ji)術,結(jie)合了低(di)壓脈沖(chong)反(fan)射和脈沖(chong)電(dian)流兩種(zhong)測(ce)試(shi)方式,適(shi)合於電(dian)力電(dian)纜的(de)高(gao)阻(zu)、閃(shan)絡、斷線(xian)、低(di)阻等類(lei)型(xing)故障(zhang)的精確測(ce)距(ju)。現在就(jiu)電(dian)纜故障(zhang)測試儀(yi)常(chang)見壹些簡(jian)單(dan)故障(zhang)類(lei)型(xing)進行(xing)分解(jie),方便用戶(hu)自(zi)行對設備(bei)進行(xing)維(wei)修(xiu),省去返廠(chang)的(de)麻(ma)煩(fan)。
            現(xian)象壹、電(dian)纜故障(zhang)測試儀(yi)開(kai)機之後,電(dian)源(yuan)指示(shi)燈(deng)不(bu)亮(liang)。
            出(chu)現(xian)這(zhe)種(zhong)情(qing)況(kuang),首先(xian)觀(guan)察(cha)屏(ping)幕上有無(wu)圖(tu)像顯示(shi),如(ru)果(guo)屏(ping)幕不亮(liang),有(you)可(ke)能是(shi)電(dian)池(chi)沒(mei)電(dian),需(xu)對設備(bei)進行(xing)充電(dian)。待(dai)充電(dian)完(wan)畢,再(zai)次(ci)開(kai)機。如(ru)果(guo)開(kai)機後屏(ping)幕亮(liang)了(le),電(dian)源(yuan)指示(shi)燈(deng)任(ren)然(ran)不(bu)亮(liang),則(ze)表示(shi)指(zhi)示(shi)燈(deng)損(sun)壞(huai),需(xu)更換指示(shi)燈(deng)。如(ru)果(guo)充完(wan)電(dian)屏(ping)幕和指(zhi)示(shi)燈(deng)依(yi)然(ran)不(bu)亮(liang),說明電(dian)纜故障(zhang)測試儀(yi)主(zhu)機中(zhong)的電(dian)路板(ban)出現故障(zhang),這(zhe)種(zhong)情(qing)況(kuang)切勿(wu)自行拆(chai)機維(wei)修(xiu),壹定(ding)要聯系(xi)廠(chang)家進行(xing)維(wei)修(xiu)。
            現象二、設備(bei)開(kai)機後,電(dian)源(yuan)指示(shi)燈(deng)亮(liang)了(le),但(dan)是電(dian)纜故障(zhang)測試儀(yi)的(de)屏(ping)幕沒(mei)有圖(tu)像顯示(shi)。
            設備(bei)屏(ping)幕沒(mei)有顯示(shi),有(you)可能是(shi)試驗(yan)現場(chang)光線(xian)強烈,導(dao)致(zhi)屏(ping)幕顯示(shi)的(de)狀態(tai)不(bu)易被(bei)查看(kan)。這(zhe)時(shi)只(zhi)需(xu)調節設備(bei)的對比(bi)度,就(jiu)可以(yi)解(jie)決問(wen)題(ti)。具(ju)體怎麽(me)調節電(dian)纜故障(zhang)測試儀(yi)的(de)對比(bi)度,可(ke)以(yi)根(gen)據產品說明書進行(xing)操(cao)作(zuo)。如(ru)果(guo)確定(ding)不是(shi)光線(xian)的(de)原因,則(ze)可(ke)能是(shi)主機電(dian)路板(ban)出現故障(zhang),需(xu)要返廠(chang)維(wei)修(xiu)。
            現象三、電(dian)纜故障(zhang)測試儀(yi)在使(shi)用(yong)過程,設備(bei)可以(yi)正常發射波(bo)形(xing),但(dan)是沒(mei)有發(fa)射波(bo)形(xing)。
            出(chu)現這(zhe)種(zhong)問(wen)題(ti),通常(chang)是有(you)兩個(ge)原因:壹是(shi)測量前選擇(ze)的(de)測量(liang)範(fan)圍過大(da)或過小,不合適(shi)的(de)測量範(fan)圍,會(hui)影(ying)響設備(bei)的正常使(shi)用(yong)。這(zhe)個(ge)時(shi)候(hou)只需(xu)回到(dao)測(ce)試(shi)前的步(bu)驟(zhou),選擇(ze)正確的範(fan)圍在進行(xing)測(ce)試(shi)。二是因為(wei)輸(shu)出(chu)測(ce)試(shi)線(xian)與(yu)被(bei)測電(dian)纜的(de)連接(jie)處(chu)沒(mei)有固(gu)定(ding),儀(yi)器(qi)無(wu)法(fa)檢測(ce)到被(bei)試品(pin),所以(yi)發(fa)射出(chu)的(de)波形(xing)沒(mei)有反(fan)射波(bo)形(xing)回(hui)應。可以(yi)先(xian)停止試(shi)驗(yan),檢查(zha)接(jie)線(xian)。待(dai)壹切正常之後,再(zai)重新(xin)進行(xing)測(ce)試(shi)。
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