100A回路電阻(zu)測試儀的測(ce)量(liang)方(fang)法(fa)

     回路電阻(zu)測試儀，又(you)稱(cheng)變壓器(qi)回路電阻(zu)測試儀，主要(yao)是用(yong)於測(ce)試高壓(ya)斷(duan)路器(qi)動(dong)靜觸(chu)頭(tou)的(de)接觸(chu)電阻(zu)，斷(duan)路器(qi)導電回路電阻(zu)主要取(qu)決於(yu)動(dong)靜觸(chu)頭(tou)的(de)接觸(chu)電阻(zu)，接觸(chu)電阻(zu)的存在(zai)，增(zeng)大(da)了導體(ti)在(zai)通電時(shi)的損耗(hao)，使(shi)接觸(chu)處(chu)的(de)溫(wen)度(du)升高，其值(zhi)的(de)大(da)小(xiao)直(zhi)接(jie)影響正(zheng)常工(gong)作(zuo)時(shi)的載(zai)流(liu)能(neng)力，在(zai)壹(yi)定(ding)程(cheng)度(du)上影(ying)響短路電流(liu)的切(qie)斷(duan)能(neng)力，也是反(fan)映(ying)安裝檢(jian)修(xiu)工(gong)作質(zhi)量(liang)的(de)重(zhong)要數(shu)據。 目(mu)前，回路電阻(zu)測試儀的測(ce)試方(fang)法(fa)主要(yao)有三種(zhong),具(ju)體操作(zuo)如(ru)下：

1、電橋(qiao)法(fa)：使用(yong)雙臂(bi)電橋(qiao)進(jin)行斷(duan)路器(qi)導電回路電阻(zu)的測量(liang)時(shi)，由於(yu)測(ce)量(liang)回路通過的是微(wei)弱(ruo)的(de)電流(liu)，難以消(xiao)除電阻(zu)較大的(de)氧化(hua)膜，測(ce)出(chu)的電阻(zu)值偏(pian)大(da)，而(er)且由於(yu)電流(liu)小，在其觸(chu)頭(tou)接(jie)觸(chu)處(chu)難(nan)以形成(cheng)收(shou)縮(suo)即無法(fa)測出(chu)收(shou)縮(suo)電阻(zu)。

2、電壓(ya)降(jiang)法(fa)：在被(bei)測(ce)回路中(zhong)，通以直(zhi)流(liu)電流(liu)時(shi)，在回路接(jie)觸(chu)電阻(zu)上將產(chan)生壓降(jiang)、測(ce)出(chu)通過回路的(de)電流(liu)值和電壓(ya)值，計(ji)算出接(jie)觸(chu)電阻(zu)。測試過程(cheng)煩(fan)瑣，人工(gong)計(ji)算測量(liang)結(jie)果，存在(zai)壹(yi)定(ding)的誤(wu)差。

3、微(wei)歐儀法(fa)(回路電阻(zu)測試儀)：原(yuan)理(li)是電壓(ya)降(jiang)原(yuan)理(li)，只(zhi)是測(ce)量(liang)、計(ji)算等方(fang)面全(quan)用(yong)單片機處(chu)理(li)，大(da)大減少了工作量(liang)。

技(ji)術指(zhi)標：