DT-10A接地(di)引(yin)下線(xian)導(dao)通(tong)測(ce)試儀新(xin)款(kuan)交直(zhi)流兩用

          接地裝置(zhi)的(de)電氣完整性(xing)是(shi)指(zhi)接地(di)裝(zhuang)置(zhi)中應該接地(di)各(ge)種(zhong)電氣設備(bei)之間(jian)，接地裝(zhuang)置(zhi)的(de)各(ge)部(bu)分(fen)及與各設(she)備(bei)之間(jian)的電氣連接性，即(ji)直(zhi)流電阻值(zhi)，也稱為(wei)電氣導通(tong)性(xing)。電力設備(bei)的接地引(yin)下線(xian)與地網(wang)的(de)可(ke)靠(kao)、有效連(lian)接(jie)是設(she)備(bei)安(an)全(quan)運行的(de)根本保(bao)障(zhang)。接(jie)地(di)引(yin)下線(xian)是(shi)電力設備(bei)與地網(wang)的(de)連接(jie)部(bu)分(fen)，在(zai)電力設備(bei)的長時(shi)間(jian)運行過(guo)程(cheng)中，連接處(chu)有可(ke)能(neng)因受潮(chao)等(deng)因素(su)影(ying)響，出(chu)現(xian)節(jie)點銹蝕、甚至(zhi)斷(duan)裂等(deng)現(xian)象(xiang)，導致接地(di)引(yin)下線(xian)與主接(jie)地(di)網連(lian)接點電阻增(zeng)大，從而(er)不(bu)能滿足(zu)電力規(gui)程(cheng)的(de)要(yao)求(qiu)，使(shi)設備(bei)在(zai)運行中存在(zai)不(bu)安(an)全(quan)隱(yin)患(huan)，嚴(yan)重時(shi)會(hui)造(zao)成(cheng)設(she)備(bei)失地運行。接(jie)地(di)裝置(zhi)的(de)地(di)下接地極(ji)及(ji)其連接部(bu)分(fen)也可(ke)能(neng)出現(xian)銹蝕、甚至(zhi)斷(duan)裂現(xian)象(xiang)。因此，定期用(yong)接地(di)引(yin)下線(xian)導(dao)通(tong)測(ce)試儀對(dui)接地裝(zhuang)置(zhi)進行電氣完整性(xing)測(ce)試是很(hen)有(you)必(bi)要(yao)。

       電力行業(ye)標準DL/T475-2006《接(jie)地(di)裝置(zhi)特性參(can)數測(ce)量導則》規(gui)定電氣導通(tong)性(xing)應選用專門的(de)測(ce)試儀進行測(ce)量，該接地(di)引(yin)下線(xian)導(dao)通(tong)測(ce)試儀分(fen)辨率為(wei)1mΩ，準確(que)度(du)不(bu)低於(yu)1.0級(ji)。我(wo)公(gong)司(si)依據(ju)此標準研(yan)制的(de)DIDT-10A接地引(yin)下線(xian)導(dao)通(tong)測(ce)試儀是(shi)壹種(zhong)自(zi)動(dong)化(hua)程(cheng)度(du)很(hen)高(gao)的便(bian)攜式(shi)測(ce)試儀，該(gai)接地引(yin)下線(xian)導(dao)通(tong)測(ce)試儀專門用(yong)於(yu)接地(di)裝(zhuang)置(zhi)的(de)電氣完整性(xing)測(ce)試，其各項(xiang)技(ji)術指(zhi)標均達(da)到(dao)或優於(yu)相關(guan)標準要(yao)求(qiu)。該接地引(yin)下線(xian)導(dao)通(tong)測(ce)試儀操(cao)作簡單(dan)方(fang)便(bian)、精度(du)高(gao)、測(ce)試速度(du)快(kuai)，復(fu)測(ce)性(xing)好、讀(du)數直觀，是符(fu)合(he)規(gui)程(cheng)要(yao)求(qiu)的理(li)想的(de)測(ce)試儀，大(da)大方便(bian)了(le)試驗項(xiang)目的(de)開(kai)展(zhan)，提高了(le)工(gong)作(zuo)效(xiao)率。

            DT-10A接(jie)地(di)引(yin)下線(xian)導(dao)通(tong)測(ce)試儀適(shi)用於(yu)適(shi)用於(yu)電力設備(bei)接地引(yin)下線(xian)與接地(di)網(wang)（或相鄰(lin)設(she)備(bei)）之間(jian)導通(tong)電阻值(zhi)的測(ce)量，該接地(di)引(yin)下線(xian)導(dao)通(tong)測(ce)試儀同樣(yang)適(shi)用於(yu)低阻值(zhi)電阻的(de)測(ce)量。

使(shi)用、操作(zuo)

• 測(ce)量接線(xian)如圖3所示(shi)：

U+、I+為(wei)壹套(tao)接(jie)線(xian)夾(jia)子，U－、I－為(wei)另壹套(tao)接(jie)線(xian)夾(jia)子，接(jie)線(xian)時(shi)必(bi)須(xu)將(jiang)U+夾(jia)在(zai)I+的(de)內(nei)側，U－夾(jia)在(zai)I－的(de)內(nei)側。線(xian)徑(jing)大的(de)為(wei)電流，線(xian)徑(jing)小(xiao)的(de)為(wei)電壓。

2．操作步(bu)驟(zhou)：

   打(da)開(kai)電源(yuan)，進入下(xia)面(mian)的(de)顯(xian)示：

通(tong)過(guo)面(mian)板上的鍵(jian)盤(pan)選擇“電阻測(ce)試”選項(xiang)，點擊確(que)定鍵(jian),進入檔(dang)位(wei)選擇菜單(dan)，進入下(xia)面(mian)的(de)顯(xian)示：

用戶根據(ju)需要(yao)選擇不(bu)同的(de)檔(dang)位，點擊確(que)定鍵(jian),進入檔(dang)位(wei)選擇菜單(dan)，進入下(xia)面(mian)的(de)顯(xian)示：

如果(guo)量程(cheng)選的較(jiao)大，會(hui)顯(xian)示:

如果(guo)量程(cheng)選的較(jiao)小(xiao)，會(hui)顯(xian)示:

選擇合適(shi)，則顯(xian)示（小(xiao)於(yu)10Ω的為(wei)例(li)）：

點擊確(que)認(ren)鍵(jian)，進入下(xia)面(mian)的(de)顯(xian)示：

出(chu)現(xian)下(xia)面(mian)顯(xian)示：

點擊退出鍵(jian)返(fan)回“電阻測(ce)試儀電阻選擇菜單(dan)” 按↑鍵(jian)繼續(xu)測(ce)試

通(tong)過(guo)面(mian)板上的鍵(jian)盤(pan)選擇“數據(ju)管(guan)理(li)”選項(xiang)，點擊確(que)定鍵(jian),進入下(xia)面(mian)的(de)顯(xian)示：

用戶(hu)根據(ju)自己的需(xu)要(yao)，選擇不(bu)同的(de)數據(ju)。選擇數據(ju)查詢”選項(xiang)，則會(hui)出(chu)現(xian)所有(you)存儲的(de)數據(ju)，帶有(you)時(shi)間(jian)日(ri)期和(he)阻值(zhi)。

點擊用戶管(guan)理(li)，則會(hui)出(chu)現(xian)下(xia)面(mian)的(de)界(jie)面(mian)：

點擊儀器校驗，出現(xian)下(xia)面(mian)顯(xian)示：

清(qing)空(kong)數據(ju)寄存器，界(jie)面(mian)和(he)儀器校驗壹樣(yang)，需(xu)要(yao)輸(shu)入(ru)密(mi)碼(ma)。

點擊“時(shi)間(jian)設置(zhi)”選項(xiang)，出(chu)現(xian)下(xia)面(mian)顯(xian)示：

點擊：“退出”鍵(jian)，返(fan)回到：“電阻測(ce)試儀”界(jie)面(mian)。